CLJ-01E型（半導體(tǐ)激(jī)光(guāng)）塵(chén)埃粒子計(jì)數(shù)器(qì)（LED顯示）

CLJ-01E型（半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)激(jī)光(guāng)）塵埃(āi)粒子(zǐ)計數(shù)器（LED顯示）主(zhǔ)要(yào)技術參數(shù)及(jí)性能(néng)：
1.光源(yuán): 全(quán)半(bàn)導體(tǐ) 激(jī)光光源
2.采(cǎi)樣(yàng)量: 2.83L/min(0.1cfm/min)
3.檢測範圍: 100級～100萬級(jí)
4.允(yǔn)許被測試(shì)空(kōng)氣(qì)的(dí)含塵(chén)濃度(dù)≯10 萬(wàn)顆(kē)/2.83L
5.粒徑(jìng)通(tōng)道: 0.3 0.5 1.0 3.0 5.0 10.0（μm）六(liù)檔(dàng)

6.顯(xiǎn)示或(huò)打印可將2.83升(shēng)/分內(nèi)所(suǒ)含(hán)顆(kē)粒(lì)轉換(huàn)成(chéng)1m3所含(hán)顆粒(lì)數
。
7.采(cǎi)樣(yàng)周期(qī): 1～10 (min)
8.自淨(jìng)時間(jiān): ≤15 (min)
9.校準(zhǔn)：可(kě)追(zhuī)溯(sù)美國(guó)國(guó)家標準(zhǔn)技術(shù)協會(huì)（NIST），我公(gōng)司(sī)已(yǐ)通過國(guó)家計量(liáng)建標(biāo)考(kǎo)核，可(kě)追(zhuī)溯至上海計(jì)量測(cè)量(liáng)技術研究(jiū)院可自(zì)行進(jìn)行校準(zhǔn)或第三(sān)方(fāng)國(guó)家(jiā)計(jì)量機構進行校準
10.工作環(huán)境: 溫(wēn)度:10～35℃ 相(xiāng)對(duì)溫(wēn)度(dù): 20～75%RH
11.zui大功耗: 25W

12.測量(liáng)溫(wēn)度和(hé)濕(shī)度的範(fàn)圍與精(jīng)度(dù)：（選(xuǎn)購）
（1） 溫(wēn)度：0～50℃±1℃
（2） 濕度(dù)：0～100%RH±5%
13.采樣點數(shù) 2～7點設定
14.每(měi)點采(cǎi)樣次數 2～9次設(shè)定
15.UCL報表(biǎo)：符合FS-209E，中國GMP的標(biāo)準
16.工作時間(jiān)：8 小時
17.電(diàn)源： AC220V±10% 50±2Hz

18.重量:4.8kg
19.外形(xíng)尺寸: 260×130×340
20.六(liù)檔粒(lì)徑(jìng)塵(chén)埃濃度(dù)同時(shí)檢測(cè)，依次數字顯(xiǎn)示(shì)或(huò)自(zì)選粒徑顯示
。
21.備注(zhù): 內置打印機，自動判斷淨化等(děng)級(jí)，等(děng)動力采樣(yàng)頭(tóu)，采樣(yàng)架
(溫濕度(dù)探頭為選購件(jiàn))