深圳市儀器儀(yí)表(biǎo)有(yǒu)限(xiàn)公司專業銷(xiāo)售(shòu)LP-40PY 表(biǎo)麵(miàn)檢(jiǎn)查燈(dēng)，：  路(lù)

LP-40PY 表(biǎo)麵檢(jiǎn)查燈

     是美(měi)國路陽儀(yí)器公(gōng)司針對半(bàn)導體行業的推出的高(gāo)強度(dù)黃綠光表麵檢查(chá)燈。精(jīng)密物的(dí)表(biǎo)麵汙漬，刮傷(shāng)及異(yì)物(wù)是(shì)產(chǎn)生不良(liáng)品的zui大(dà)原(yuán)因(yīn)。專(zhuān)為(wéi)此設(shè)計的LP-40PY 表(biǎo)麵檢查燈(dēng)采(cǎi)用(yòng)人(rén)眼(yǎn)zui敏感的(dí)光綫來(lái)做zui簡單與(yǔ)明(míng)確的判(pàn)別，可精確檢(jiǎn)查(chá)到10um以下(xià)的刮痕(hén)或微粒(lì)子，大(dà)大降低產(chǎn)品不(bù)良率。

LP-40PY 表(biǎo)麵檢查燈(dēng)應(yīng)用：

LCD濾光(guāng)片(piàn)，偏光板(bǎn)，晶圓(yuán)，半導體(tǐ)， 玻(bō)璃(lí)或金(jīn)屬表(biǎo)麵刮痕及灰(huī)塵檢(jiǎn)查(chá)

LP-40PY 表麵(miàn)檢查(chá)燈特點(diǎn)：

 快速無(wú)損檢(jiǎn)測(cè)小(xiǎo)至10微(wēi)米的(dí)瑕疵，小顆(kē)粒

 有效地探測出生產過(guò)程(chéng)是(shì)早(zǎo)期的(dí)汙物，節(jié)省(shěng)生產(chǎn)時(shí)間(jiān)及不(bù)必要(yào)的(dí)成(chéng)本。

 *的高(gāo)強(qiáng)度燈泡發出546,577及(jí)579nm波(bō)長光(guāng)譜

  特製(zhì)的黃(huáng)色(sè)濾(lǜ)色(sè)片(piàn)濾掉(diào)波長小(xiǎo)於500nm的(dí)光綫(xiàn)，防(fáng)止(zhǐ)產(chǎn)生(shēng)熒(yíng)光幹擾(rǎo)。

 特(tè)殊波(bō)長，主波長為(wéi)546，578 nm知黃綠(lǜ)光(guāng)且(qiě)不傷(shāng)人(rén)眼(yǎn)

 由於人眼對(duì)黃綠(lǜ)光(guāng)的(dí)高(gāo)敏感度，可精確(què)檢(jiǎn)查(chá)到(dào)10um以(yǐ)下(xià)的刮痕或(huò)微(wēi)粒子

 采用(yòng)桌(zhuō)夾(jiā)式固定(dìng),可任(rèn)意調整(zhěng)照射(shè)角度

 采(cǎi)用(yòng)電子點燈方式，操作簡單

 聚(jù)光照射，亮度高(gāo)，效果佳(jiā)

 可在無(wú)塵(chén)室使用

LP-40PY 表麵檢(jiǎn)查(chá)燈技(jì)術(shù)參(cān)數：