德國(guó)EPK新型(xíng)高精度塗層測(cè)厚(hòu)儀MiniTest 7400高精度塗(tú)層測(cè)厚(hòu)儀

•　所(suǒ)有(yǒu)金屬基材上的非破壞(huài)性(xìng)測量(liáng)

•　多(duō)種圖(tú)形顯示選項

•　菜(cài)單控製(zhì)界麵，更(gēng)強的數據和(hé)配(pèi)置管理(lǐ)

•　用於簡易(yì)配(pèi)置(zhì)評估和(hé)數(shù)據設置(zhì)報(bào)告(gào)的(dí)PC軟(ruǎn)件

•　測量厚(hòu)度(dù)高達(dá)35mm的(dí)各種(zhǒng)耐磨(mó)探頭(tóu)

•　SIDSP®技(jì)術提(tí)升(shēng)精(jīng)確(què)度和重現性(xìng)

MiniTest 7400 探頭

可(kě)選探(tàn)頭

種(zhǒng)類繁多(duō)的可換(huàn)探頭，滿足各(gè)種應(yīng)用要求。

可(kě)以通過推(tuī)拉式連(lián)接(jiē)係(xì)統(tǒng)輕鬆(sōng)地更(gēng)換探(tàn)頭(tóu)。

兩(liǎng)用型(xíng)FN探頭(tóu)自動識別(bié)基體(tǐ)材(cái)料(liào)。

與(yǔ)表(biǎo)麵(miàn)接觸(chù)後，儀器(qì)自動(dòng)切換到(dào)合(hé)適的測(cè)量原理(lǐ)。 因此，應用(yòng)錯(cuò)誤會(huì)被(bèi)淘汰，加快(kuài)了測量(liáng)進(jìn)程。

1.多點校準,在實驗(yàn)室條件(jiàn)下(xià)符合提供的(dí)標(biāo)準(zhǔn)

2.零點(diǎn)校(xiào)準，並且校準(zhǔn)值(zhí)和(hé)預(yù)期(qī)的塗層(céng)厚度接近(jìn)

3.使(shǐ)用精(jīng)密(mì)支(zhī)架，不(bù)適用(yòng)HD探頭

4.如果選擇“快(kuài)速”，測(cè)量速度主要取(qǔ)決(jué)於(yú)操作

5.根據 DIN 55350第(dì)13部(bù)分

6.多點校(xiào)準值優於獲得的(dí)數(shù)據(jù).

7.包括塗(tú)層(céng)

探(tàn)頭設計選擇

不(bù)同的(dí)綫纜(lǎn)插(chā)口(kǒu)類型(xíng)更(gēng)加靈活，來適應測試要求(qiú)。每(měi)個(gè)標(biāo)準(zhǔn)探頭都(dū)可以(yǐ)提(tí)供(gōng)直(zhí)綫(xiàn)纜插口或(huò)直角設計，後(hòu)者可以測(cè)量難以進(jìn)入(rù)的(dí)類(lèi)似(sì)管和中空零(líng)件(jiàn)。

對(duì)由於油漆(qī)或(huò)粉(fěn)塵(chén)汙(wū)染(rǎn)的惡劣(liè)壞(huài)境需要(yào)特殊的(dí)探頭。為(wéi)了給在惡(è)劣環(huán)境(jìng)中(zhōng)提供(gōng)zui終保(bǎo)護(hù)，MiniTest 7400提供了(liǎo)一個(gè)特製的(dí)堅固探(tàn)頭係(xì)列（HD探頭）。這些探(tàn)頭具有(yǒu)特殊的(dí)灌漿(jiāng)密封(fēng)用(yòng)來保護(hù)探頭設(shè)備(bèi)。外(wài)部的彈簧裝置(zhì)使探頭易(yì)於清洗。

 　　　　　　　F 2 HD 探頭(tóu)

對於(yú)粗糙表(biǎo)麵，“F2 HD”型(xíng)探頭是(shì)特別(bié)適(shì)用(yòng)於(yú)粗糙表(biǎo)麵的(dí)探(tàn)頭(tóu)。

MiniTest 7400 主機(jī)技(jì)術(shù)參(cān)數