
SDY-5型(xíng)雙(shuāng)電測四(sì)探(tàn)針測試儀采(cǎi)用(yòng)了(liǎo)四(sì)探(tàn)針雙(shuāng)位組(zǔ)合測(cè)量技術,利用(yòng)電(diàn)流(liú)探針,電壓探針(zhēn)的變換(huàn),進(jìn)行兩次電測量,能自動(dòng)消(xiāo)除樣品幾何尺(chǐ)寸,邊界效應(yīng)以及(jí)探針不等(děng)距和(hé)機(jī)械遊(yóu)移(yí)等(děng)因素(sù)對(duì)測(cè)量結果的(dí)影(yǐng)響,從而提高了(liǎo)測量結果的(dí)準確(què)度(dù)
使用本儀(yí)器進行(háng)測量(liáng)時,由(yóu)於不需要(yào)進(jìn)行(háng)幾(jī)何邊(biān)界條(tiáo)件和(hé)探(tàn)針(zhēn)間距的修正(zhèng),因(yīn)而對(duì)各(gè)種(zhǒng)形狀的薄膜材料(liào)及(jí)片狀材(cái)料有廣(guǎng)泛(fàn)的適(shì)用(yòng)性(xìng)。儀(yí)器特別適(shì)用(yòng)於測(cè)量片狀半導體材料電阻率以(yǐ)及矽(guī)擴(kuò)散(sàn)層(céng),離(lí)子(zǐ)注入層,異型外延層(céng)等半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)器件(jiàn)和液晶片導電(diàn)膜,電熱膜(mó)等薄層(膜(mó))的(dí)方(fāng)塊(kuài)電阻(zǔ).
儀器以大規模集(jí)成電(diàn)路(lù)為核心部(bù)件,特(tè)別(bié)采用(yòng)了平(píng)麵輕(qīng)觸(chù)式開關(guān)設計(jì)和(hé)各種工作狀態(tài)LED指(zhǐ)示.並(bìng)應用了微計算機(jī)技術(shù),利用HQ-710F型微(wēi)計(jì)算(suàn)機作為(wéi)測(cè)量控製(zhì)及(jí)數(shù)據處理(lǐ)器,使得(dé)測量(liáng),計算(suàn),讀數更(gēng)加(jiā)直觀(guān),快(kuài)速,並(bìng)能(néng)打印全(quán)部(bù)預置和(hé)測量數據。
技術(shù)指標(biāo):
1,測量(liáng)範(fàn)圍:電阻率:0.001-200Ω.cm(可(kě)擴展)
薄(báo)層電(diàn)阻:0.01-2000Ω/口(可擴(kuò)展)
可測晶(jīng)片厚(hòu)度:≤3.00mm
2,恒(héng)流(liú)電源(yuán):電(diàn)流分為(wéi)100mA,1mA,10mA, 100ma 四檔 ;連(lián)續可調;穩定(dìng)度優(yōu)於(yú)0.3%
3,數字(zì)電壓(yā)表:量(liáng)程:0-199.99mV;分辨率:0.01mV精(jīng)度(dù):±0.1%
顯示(shì):四(sì)位半紅色(sè)發光管(guǎn)數字顯(xiǎn)示。極(jí)性,小(xiǎo)數(shù)點(diǎn),超量(liáng)程(chéng)自(zì)動顯(xiǎn)示(shì);
4,模擬電(diàn)路測試(shì)誤差(chà):(用(yòng)1,10,100,1000 ?精(jīng)密(mì)電(diàn)阻測量)≤±0.3%±1字;
5,整機準確度:(用0.01至(zhì)180Ω.cm矽標樣片測試)≤4%
6,微(wēi)計算機(jī)功能(néng):
A 鍵盤控製(zhì)測量(liáng)取數,自動(dòng)控(kòng)製電(diàn)流換(huàn)向(xiàng)和(hé)電流,電壓(yā)探針(zhēn)的(dí)變(biàn)換(huàn),並(bìng)進(jìn)行正(zhèng),反向電(diàn)流下的測(cè)量,顯示出平均值
B 鍵盤控(kòng)製數(shù)據(jù)處(chǔ)理,按(àn)內(nèi)存公式(shì)計算(suàn)出薄層電(diàn)阻(zǔ)或電阻(zǔ)率平(píng)均(jūn)值(zhí)以(yǐ)及百分變化。
C 鍵盤控製打印(yìn)全部(bù)測量(liáng)數據(jù)。包括測量(liáng)條(tiáo)件(jiàn),各次測量平均(jūn)值,zui大(dà)值(zhí),zui小(xiǎo)值(zhí),百分變化等數據。
7,外形(xíng)尺寸(cùn):電氣主機(jī):360mm×320mm×100mm; 微計(jì)算機(jī):300mm×210mm×105mm
8,儀器(qì)重(zhòng)量(liáng):電氣(qì)主機(jī):約4kg;測(cè)試架(J-2A型):約5kg;微計算機:約2.5kg;
9,電源:AC 220V±10%,50Hz,功率<25W
10,測(cè)試環境(jìng):溫度23±2℃;相對濕度(dù)≤65%;無(wú)高頻(pín)幹擾(rǎo);無(wú)強光(guāng)照射(shè)。
| 配置 | 四探(tàn)針測試儀(yí)主(zhǔ)機,J-2B型(xíng)測試台(tái),9D型(xíng)探(tàn)頭(tóu),710F型數(shù)據(jù)處理(lǐ)器(qì) | 21000/套(tào) | ||||||
| 配置 | 四探針測試(shì)儀(yí)主(zhǔ)機,J-52型(xíng)測試台,DNT-1型(xíng)探(tàn)頭(tóu),710F型(xíng)數據(jù)處(chǔ)理(lǐ)器 | 22300/套(tào) | ||||||
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