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  • SDY-5SDY-5型(xíng)雙電測四探針測試儀
    SDY-5SDY-5型雙(shuāng)電(diàn)測四探(tàn)針測試(shì)儀

    SDY-5型雙電測四(sì)探針測試(shì)儀(yí)采用(yòng)了(liǎo)四(sì)探(tàn)針雙(shuāng)位組合(hé)測量(liáng)技術,利(lì)用電流探針,電(diàn)壓(yā)探針(zhēn)的變換(huàn),進行(háng)兩(liǎng)次電測(cè)量(liáng),能自動(dòng)消除(chú)樣(yàng)品幾(jī)何(hé)尺寸,邊界(jiè)效(xiào)應(yīng)以(yǐ)及探針不(bù)等距(jù)和(hé)機械(xiè)遊移等因素(sù)對測量(liáng)結(jié)果的影(yǐng)響,從而(ér)提高(gāo)了測(cè)量(liáng)結果(guǒ)的準確度

    時(shí)間:2025-09-21型號(hào):SDY-5
  • RTS-5RTS-5型(xíng)雙(shuāng)電測四(sì)探針測試儀
    RTS-5RTS-5型(xíng)雙電(diàn)測四(sì)探針(zhēn)測(cè)試(shì)儀

    RTS-5型雙電(diàn)測四探針(zhēn)測(cè)試儀(yí)采用(yòng)了(liǎo)四(sì)探針(zhēn)雙(shuāng)電(diàn)測(cè)組(zǔ)合(亦稱雙位組(zǔ)合(hé))測量新(xīn)技術,將範德堡(bǎo)測量(liáng)方法(fǎ)推(tuī)廣應用到直(zhí)綫四探針(zhēn)上,利用電流(liú)探針,電壓探針的變(biàn)換(huàn),在(zài)計算機(jī)控製下進行兩(liǎng)次電測量(liáng),能(néng)自(zì)動(dòng)消(xiāo)除樣(yàng)品(pǐn)幾(jī)何(hé)尺(chǐ)寸(cùn),邊界(jiè)效(xiào)應以(yǐ)及(jí)探(tàn)針(zhēn)不(bù)等(děng)距和機(jī)械(xiè)遊移等因素(sù)對測(cè)量結果(guǒ)的影響。

    時間:2025-09-21型(xíng)號:RTS-5
  • RTS-9RTS-9型(xíng)雙(shuāng)電測(cè)四探針測試儀
    RTS-9RTS-9型雙(shuāng)電(diàn)測四探(tàn)針測試儀

    RTS-9型雙(shuāng)電測四(sì)探(tàn)針(zhēn)測試儀采(cǎi)用(yòng)了(liǎo)四(sì)探針雙(shuāng)電測組合(亦(yì)稱雙(shuāng)位組合)測(cè)量新技術(shù),將範(fàn)德堡測(cè)量(liáng)方法推廣應(yīng)用(yòng)到(dào)直綫四探(tàn)針(zhēn)上,利(lì)用電(diàn)流探針,電壓探針(zhēn)的變換(huàn),在計算機控製下(xià)進行兩(liǎng)次電(diàn)測量,能(néng)自(zì)動消除樣(yàng)品幾何尺寸,邊界效應以及探針不等(děng)距和機械遊移等因素對(duì)測(cè)量結(jié)果(guǒ)的影(yǐng)響。

    時(shí)間(jiān):2025-09-21型(xíng)號:RTS-9
  • RTS-3RTS-3型(xíng)手持(chí)式四(sì)探(tàn)針測(cè)試(shì)儀(yí)
    RTS-3RTS-3型手(shǒu)持式(shì)四(sì)探(tàn)針測試儀

    RTS-3型(xíng)手(shǒu)持式四(sì)探針測試(shì)儀是(shì)運(yùn)用四探針(zhēn)測量原(yuán)理的多(duō)用途(tú)綜(zōng)合測量設備(bèi)。該儀器(qì)按照(zhào)單(dān)晶(jīng)矽物(wù)理(lǐ)測試(shì)方法(fǎ)國家標(biāo)準並參考(kǎo)美國 A.S.T.M 標(biāo)準(zhǔn)而設計的(dí),於測量矽(guī)晶塊,晶(jīng)片電阻(zǔ)率(shuài)及(jí)擴(kuò)散層,外延(yán)層,ITO導(dǎo)電箔膜,導(dǎo)電橡膠等材料(liào)方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)的(dí)小型儀(yí)器。

    時(shí)間:2025-09-21型(xíng)號(hào):RTS-3
  • SDY-4SDY-4型四探針測(cè)試儀(yí)
    SDY-4SDY-4型四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀(yí)

    SDY-4型(xíng)四(sì)探針測試(shì)儀是根據單(dān)晶(jīng)矽(guī)物(wù)理測(cè)試方法國家標準(zhǔn)並(bìng)參(cān)考美國A.S.T.M標準(zhǔn)設(shè)計的半導體材(cái)料(liào)電(diàn)阻率(shuài)及方塊電阻(zǔ)(薄層電(diàn)阻)測試(shì)儀器(qì).

    時(shí)間:2025-09-21型號:SDY-4
  • RTS-4RTS-4型數字式四探(tàn)針(zhēn)測試(shì)儀
    RTS-4RTS-4型(xíng)數字式(shì)四探針測試儀

    可連接電腦使用也可以(yǐ)不(bù)連接電(diàn)腦使(shǐ)用,連(lián)接電腦使用帶(dài)自(zì)動測量(liáng)功能,自動選(xuǎn)擇適合樣(yàng)品測(cè)試(shì)電流(liú)量程; 高(gāo)速並口通訊(xùn)接口(kǒu),連接電(diàn)腦使用時采(cǎi)集(jí)數據到電(diàn)腦(nǎo)的時間(jiān)隻(zhī)需要(yào)1.5秒;

    時間:2025-09-21型(xíng)號(hào):RTS-4
  • RTS-8RTS-8型數(shù)字(zì)式(shì)四探針測試儀(yí)
    RTS-8RTS-8型數字式四探針測試(shì)儀

    恒流(liú)源電流(liú)量程分為1µA,10µA,100µA,1mA,10mA,100mA六檔(dàng);可連(lián)接(jiē)電腦使(shǐ)用也可以不連(lián)接電腦使用(yòng),連接(jiē)電腦使(shǐ)用(yòng)帶自動(dòng)測量(liáng)功能,自(zì)動選(xuǎn)擇適(shì)合(hé)樣(yàng)品測試電流(liú)量程(chéng);高(gāo)速並(bìng)口通(tōng)訊(xùn)接口,連(lián)接電腦(nǎo)使用時采集數據到電(diàn)腦的時間隻需要1.5秒(miǎo)(在(zài)0.1mA,1mA,10mA,100mA量(liáng)程(chéng)檔(dàng)時);

    時間(jiān):2025-09-21型(xíng)號:RTS-8
  • TH2512係(xì)列直流(liú)低(dī)電阻(zǔ)測(cè)試儀
    TH2512係(xì)列(liè)直流低電阻測試儀

    TH2512/TH2512A/TH2512B直(zhí)流低電(diàn)阻(zǔ)測試(shì)儀是(shì)智(zhì)能化,寬範圍(wéi),精(jīng)密的直流(liú)電(diàn)阻測試(shì)儀器(qì),適用於(yú)變壓器及電感(gǎn)綫圈(quān)銅(tóng)阻(zǔ),繼電(diàn)器接(jiē)觸電(diàn)阻,開(kāi)關(guān),接插(chā)件(jiàn)接觸(chù)電(diàn)阻,導綫電阻,元(yuán)件(jiàn)焊點(diǎn)接(jiē)觸電(diàn)阻,印製板(bǎn)綫(xiàn)條(tiáo)及焊孔電阻(zǔ),金(jīn)屬(shǔ)探(tàn)傷(shāng)等。應(yīng)用於生產綫(xiàn),可(kě)使用(yòng)HANDLER接口及GPIB接(jiē)口(kǒu)(選件(jiàn))輸(shū)出(chū)良(liáng)品/不良(liáng)品信號,以(yǐ)提(tí)高(gāo)生(shēng)產綫自動(dòng)化測(cè)試能(néng)力。

    時間:2025-09-20型號(hào):
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