克列茨(cí)kyoritsu共立數字絕緣高壓(yā)搖(yáo)表兆歐表 • 絕緣(yuán)電(diàn)阻(zǔ)測試最大可達1TΩ • 短路電(diàn)流(liú)可達(dá)1.5mA • 測試電壓範(fàn)圍為(wéi)250V-5000V • PI和DAR的診斷(duàn)功能 • 采(cǎi)用最(zuì)新設計的鱷魚夾 • 配備(bèi)了堅固的(dí)便攜箱 • 濾(lǜ)波功能(néng)可(kě)減少(shǎo)噪(zào)音幹擾而有(yǒu)利於(yú)穩定測試 • 可顯示(shì)條(tiáo)形圖(tú)的(dí)大顯(xiǎn)示(shì)屏具(jù)有(yǒu)背光功(gōng)能(néng) • 通電(diàn)回路警(jǐng)告(gào)功能 • 設(shè)計符(fú)合國際安全規格(gé) IEC 61010-1 CAT IV 3
midi LOGGER GL220采(cǎi)用小(xiǎo)型(xíng)，可(kě)放心測(cè)定(dìng)的(dí)全頻(pín)道絕緣輸(shū)入方式。可進(jìn)行(háng)電(diàn)壓/溫(wēn)度/濕度(dù)/脈衝/邏(luó)輯(jí)的多元輸入(rù)。 根據客戶(hù)要(yào)求提供多(duō)種(zhǒng)高速(sù)電壓測定，可(kě)測(cè)定(dìng)範圍擴(kuò)展(zhǎn)至10ms取(qǔ)樣（電(diàn)壓(yā)範圍(wéi)1ch輸(shū)入時）。 此(cǐ)外(wài)，內(nèi)置存儲器(qì)中搭(dā)載2GB大(dà)容量(liáng)閃存(cún)，無(wú)需使(shǐ)用(yòng)外(wài)部(bù)存儲媒(méi)體即(jí)可(kě)實現(xiàn)長時(shí)間(jiān)的數據収(shōu)錄。 GL220提(tí)高了(liǎo)可(kě)對應(yīng)多(duō)樣(yàng)化(huà)測量用途的(dí)功能性與操作性,從研究開(kāi)發(fā)到生產(chǎn)綫現場(cháng)，可(kě)1人1台進(jìn)行使(shǐ)
&采用WINDOWS操作(zuò)係統，操作(zuò)更方(fāng)便。 &智能(néng)化(huà)，數字化(huà)，全中(zhōng)文操作菜(cài)單，準確(què)測(cè)量，操作(zuò)簡便； &重(zhòng)量(liáng)輕，手(shǒu)持設計，單人(rén)操(cāo)作，全程自動(dòng)測量； &大容(róng)量存儲，歷(lì)史(shǐ)數(shù)據自(zì)動(dòng)匯(huì)集，隨時(shí)查詢(xún)； &測試夾（棒）可選，適應各(gè)種(zhǒng)電(diàn)池(chí)檢測 &4.3英寸LCD顯示，中文(wén)界(jiè)麵(miàn)，觸屏(píng)操作，使(shǐ)用(yòng)簡便(biàn)； &直(zhí)流大電(diàn)流(liú)測(cè)試(shì)，抗幹(gān)擾，測試(shì)更準確； &USB接口(kǒu)數據(jù)拷貝(bèi)，INTERNET接口(kǒu)遠程(chéng)係統升(shēng)級
SDY-5型雙電(diàn)測(cè)四探針測(cè)試儀采(cǎi)用(yòng)了四探針雙(shuāng)位組合測(cè)量(liáng)技術,利(lì)用電(diàn)流探(tàn)針，電壓探(tàn)針的變(biàn)換，進行兩次電(diàn)測量，能(néng)自動消除(chú)樣品幾(jī)何(hé)尺寸(cùn)，邊界(jiè)效應(yīng)以及(jí)探針不(bù)等距(jù)和(hé)機械(xiè)遊移(yí)等(děng)因(yīn)素對測量(liáng)結果(guǒ)的影(yǐng)響(xiǎng)，從而提高了測量結(jié)果(guǒ)的準(zhǔn)確度
RTS-5型雙電(diàn)測四探(tàn)針測試儀(yí)采用(yòng)了(liǎo)四探針(zhēn)雙電(diàn)測組合(hé)(亦(yì)稱雙位組合)測量新(xīn)技術(shù),將範德堡測(cè)量(liáng)方法(fǎ)推廣(guǎng)應(yīng)用(yòng)到(dào)直綫四探針上(shàng),利用(yòng)電流探(tàn)針，電壓(yā)探(tàn)針(zhēn)的變換(huàn)，在(zài)計算機(jī)控(kòng)製下進(jìn)行(háng)兩次電測(cè)量(liáng)，能(néng)自動(dòng)消除樣(yàng)品幾(jī)何尺寸(cùn)，邊界效應(yīng)以及探針不等(děng)距和(hé)機械(xiè)遊移等因(yīn)素對(duì)測(cè)量(liáng)結(jié)果的影響。
RTS-9型雙電(diàn)測四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀采用了四探針雙電測組合(hé)(亦稱雙位組合)測(cè)量(liáng)新(xīn)技(jì)術(shù),將(jiāng)範德(dé)堡(bǎo)測量方法推廣(guǎng)應(yīng)用到(dào)直綫四探(tàn)針上,利用電(diàn)流探(tàn)針(zhēn)，電壓探(tàn)針的(dí)變(biàn)換，在(zài)計(jì)算機控(kòng)製下進行(háng)兩次(cì)電(diàn)測量，能(néng)自動消除樣(yàng)品幾何尺(chǐ)寸(cùn)，邊(biān)界(jiè)效(xiào)應以及(jí)探(tàn)針不等(děng)距(jù)和機(jī)械遊移等因素對測(cè)量結果的(dí)影響。
RTS-3型(xíng)手(shǒu)持(chí)式四探(tàn)針測試(shì)儀是運用四(sì)探(tàn)針測(cè)量原(yuán)理的多用(yòng)途綜合(hé)測(cè)量(liáng)設備。該儀(yí)器(qì)按照(zhào)單晶(jīng)矽(guī)物(wù)理(lǐ)測試方法國(guó)家(jiā)標(biāo)準並參(cān)考美(měi)國(guó) A.S.T.M 標(biāo)準而(ér)設計(jì)的(dí)，於測量(liáng)矽(guī)晶(jīng)塊(kuài)，晶片電(diàn)阻(zǔ)率及擴散層(céng)，外(wài)延層(céng)，ITO導(dǎo)電(diàn)箔膜，導(dǎo)電(diàn)橡膠等(děng)材料(liào)方塊(kuài)電(diàn)阻(zǔ)的(dí)小(xiǎo)型儀器(qì)。
RTS-2/RTS-2A型(xíng)便(biàn)攜(xié)式四探針測(cè)試(shì)儀(yí)是運用(yòng)四探針測量原(yuán)理的多用(yòng)途綜合(hé)測(cè)量(liáng)設(shè)備。該儀器按照(zhào)單晶矽(guī)物理測試方法(fǎ)國(guó)家(jiā)標(biāo)準並(bìng)參考美國 A.S.T.M 標(biāo)準而(ér)設計(jì)的，於測量矽晶塊，晶片(piàn)電阻(zǔ)率及(jí)擴散層，外延層(céng)，ITO導電箔(bó)膜，導電(diàn)橡(xiàng)膠(jiāo)等材料(liào)方塊電(diàn)阻(zǔ)的(dí)小(xiǎo)型儀器。
SDY-4型四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試儀是根據(jù)單晶矽物理測試(shì)方法國家標準並參考美(měi)國A.S.T.M標(biāo)準(zhǔn)設(shè)計(jì)的半導(dǎo)體材料電阻(zǔ)率(shuài)及方塊電(diàn)阻(zǔ)(薄(báo)層電(diàn)阻)測(cè)試儀(yí)器(qì).
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