SDY-5型雙電(diàn)測四(sì)探針測(cè)試儀采用了四探針(zhēn)雙位組合(hé)測量(liáng)技術(shù),利(lì)用(yòng)電(diàn)流(liú)探針，電(diàn)壓(yā)探(tàn)針(zhēn)的變換，進(jìn)行(háng)兩次(cì)電測(cè)量(liáng)，能(néng)自(zì)動消除樣(yàng)品幾(jī)何(hé)尺寸(cùn)，邊(biān)界效應以(yǐ)及探針(zhēn)不(bù)等(děng)距和機械遊(yóu)移等(děng)因素對(duì)測(cè)量(liáng)結果的影(yǐng)響，從而提(tí)高了(liǎo)測量結果(guǒ)的(dí)準確度
RTS-5型雙(shuāng)電測四探針測試儀(yí)采(cǎi)用(yòng)了四探針雙(shuāng)電測組(zǔ)合(亦稱(chēng)雙(shuāng)位組合(hé))測量新技術,將範(fàn)德堡(bǎo)測量方法推(tuī)廣應(yīng)用(yòng)到(dào)直綫四探針(zhēn)上,利用電(diàn)流探(tàn)針(zhēn)，電壓探針的變(biàn)換(huàn)，在(zài)計算機(jī)控(kòng)製(zhì)下進行兩(liǎng)次電(diàn)測量(liáng)，能自(zì)動消除樣(yàng)品(pǐn)幾何尺(chǐ)寸(cùn)，邊(biān)界(jiè)效應(yīng)以及探針不等距和機械(xiè)遊(yóu)移等因素(sù)對測(cè)量(liáng)結果(guǒ)的(dí)影響(xiǎng)。
RTS-9型(xíng)雙電測四探(tàn)針(zhēn)測(cè)試(shì)儀采(cǎi)用了(liǎo)四探(tàn)針雙(shuāng)電測組合(亦(yì)稱(chēng)雙位組(zǔ)合(hé))測(cè)量(liáng)新技術,將範(fàn)德(dé)堡(bǎo)測量方法(fǎ)推廣應用(yòng)到直(zhí)綫四(sì)探針(zhēn)上,利用(yòng)電(diàn)流探針(zhēn)，電壓探(tàn)針的變(biàn)換(huàn)，在計算機控製下進(jìn)行(háng)兩次電測(cè)量，能(néng)自動(dòng)消除樣(yàng)品(pǐn)幾何尺寸(cùn)，邊界(jiè)效應(yīng)以及探(tàn)針不等距和機械(xiè)遊移(yí)等因素對測(cè)量(liáng)結果(guǒ)的(dí)影響。
RTS-3型手(shǒu)持式四(sì)探(tàn)針(zhēn)測(cè)試(shì)儀是運(yùn)用四(sì)探(tàn)針測量原理(lǐ)的多(duō)用(yòng)途(tú)綜合(hé)測量設備(bèi)。該(gāi)儀(yí)器(qì)按(àn)照單晶(jīng)矽(guī)物理測(cè)試(shì)方(fāng)法國家(jiā)標準(zhǔn)並參考(kǎo)美(měi)國(guó) A.S.T.M 標準(zhǔn)而設(shè)計(jì)的，於測(cè)量矽晶(jīng)塊，晶片電阻(zǔ)率(shuài)及(jí)擴散層，外延(yán)層，ITO導(dǎo)電(diàn)箔膜(mó)，導(dǎo)電橡膠(jiāo)等(děng)材(cái)料方塊(kuài)電阻(zǔ)的(dí)小型(xíng)儀器。
RTS-2/RTS-2A型便攜(xié)式(shì)四(sì)探針(zhēn)測試(shì)儀是(shì)運用四(sì)探針測(cè)量(liáng)原理的多用途(tú)綜合測(cè)量設備。該(gāi)儀器按(àn)照(zhào)單(dān)晶矽物理測(cè)試(shì)方法國(guó)家標(biāo)準並(bìng)參考美(měi)國 A.S.T.M 標準(zhǔn)而設(shè)計的，於測(cè)量矽晶(jīng)塊(kuài)，晶片電(diàn)阻率及擴散層，外延(yán)層，ITO導(dǎo)電箔(bó)膜(mó)，導電橡(xiàng)膠(jiāo)等材(cái)料(liào)方塊電阻的(dí)小(xiǎo)型儀器(qì)。
SDY-4型四(sì)探針測試(shì)儀是根據單(dān)晶(jīng)矽(guī)物理(lǐ)測(cè)試(shì)方(fāng)法(fǎ)國家標準(zhǔn)並參(cān)考美國(guó)A.S.T.M標準設(shè)計的(dí)半(bàn)導(dǎo)體(tǐ)材料電(diàn)阻率及(jí)方塊電(diàn)阻(薄層電(diàn)阻(zǔ))測(cè)試(shì)儀(yí)器.
可(kě)連(lián)接電(diàn)腦使(shǐ)用也可(kě)以不連接(jiē)電(diàn)腦使(shǐ)用(yòng)，連接(jiē)電腦使用帶(dài)自動(dòng)測量(liáng)功能(néng)，自動選擇(zé)適合(hé)樣品(pǐn)測試(shì)電流量(liáng)程； 高(gāo)速(sù)並(bìng)口(kǒu)通(tōng)訊接口，連接(jiē)電腦使用時(shí)采集數(shù)據到(dào)電(diàn)腦的(dí)時(shí)間隻(zhī)需(xū)要1.5秒；
恒(héng)流(liú)源(yuán)電流量(liáng)程分為1µA，10µA，100µA，1mA，10mA，100mA六(liù)檔；可連接(jiē)電腦使(shǐ)用(yòng)也可以(yǐ)不連接(jiē)電腦(nǎo)使(shǐ)用，連(lián)接(jiē)電腦使(shǐ)用帶自動(dòng)測(cè)量(liáng)功(gōng)能，自動選擇適(shì)合樣(yàng)品測(cè)試電(diàn)流量(liáng)程；高(gāo)速(sù)並口通訊(xùn)接口(kǒu)，連接(jiē)電(diàn)腦使用時采(cǎi)集(jí)數據到電(diàn)腦(nǎo)的時間隻需要1.5秒（在(zài)0.1mA，1mA，10mA，100mA量程檔(dàng)時(shí)）；
TH2512/TH2512A/TH2512B直(zhí)流(liú)低電(diàn)阻測(cè)試(shì)儀是(shì)智能化，寬(kuān)範(fàn)圍，精密(mì)的直(zhí)流電阻測(cè)試(shì)儀器，適用於變(biàn)壓(yā)器(qì)及電感綫圈(quān)銅(tóng)阻，繼(jì)電(diàn)器(qì)接觸(chù)電阻，開關(guān)，接插件(jiàn)接(jiē)觸電阻(zǔ)，導綫電阻(zǔ)，元(yuán)件(jiàn)焊點接(jiē)觸電阻，印製板綫條及焊孔電阻(zǔ)，金(jīn)屬探(tàn)傷等(děng)。應(yīng)用於(yú)生(shēng)產(chǎn)綫，可使(shǐ)用HANDLER接口及(jí)GPIB接口（選(xuǎn)件）輸(shū)出(chū)良(liáng)品/不良品信號，以提高(gāo)生產(chǎn)綫(xiàn)自動化(huà)測試能(néng)力(lì)。
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